可控硅測(cè)試儀是晶閘管觸發(fā)電壓VGT、觸發(fā)電流IGT和維持電流IH三項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。適用于各種反向阻斷晶閘管，逆導(dǎo)晶閘管及雙向晶閘管的參數(shù)測(cè)試。本測(cè)試儀設(shè)計(jì)先進(jìn)，結(jié)構(gòu)合理，操作簡(jiǎn)便。并具有數(shù)字顯示，自動(dòng)測(cè)試等功能。其技術(shù)指標(biāo)符合GB4024-83標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠和使用單位zui為理想的檢測(cè)設(shè)備。
可控硅測(cè)試儀主要用于可控硅使用廠家對(duì)可控硅元件的質(zhì)量檢驗(yàn)、參數(shù)的配對(duì)、可控硅設(shè)備的維修之用。可控硅測(cè)試儀還可以廣泛的應(yīng)用于對(duì)多種電子元器件的高低壓耐壓的測(cè)試。儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、使用安全方便。
可控硅測(cè)試儀產(chǎn)品介紹：
１、它可以測(cè)量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的各種電流等級(jí)的塑封單、雙向可控硅（晶閘管）。
２、專門設(shè)計(jì)了0-1O00uA的觸發(fā)電流量程，可以直接測(cè)量MCR100-6等微安級(jí)觸發(fā)電流的可控硅。
３、可以測(cè)量DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測(cè)可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器。
４、可以測(cè)量200A以下的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊。
５、測(cè)試觸發(fā)電流和觸發(fā)電壓時(shí)無需人工調(diào)節(jié)，可控硅插入測(cè)試座后儀器會(huì)自動(dòng)的調(diào)節(jié)至觸發(fā)值，并穩(wěn)定的顯示觸發(fā)電流IGT/觸發(fā)電壓VGT。
６、測(cè)試可控硅耐壓參數(shù)時(shí)只需一次性調(diào)節(jié)好zui高輸出電壓值，以后每測(cè)一個(gè)管子只要按下高壓按鈕即可顯示該可控硅的耐壓值。
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產(chǎn)品分類
更新時(shí)間：2018-03-28 
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